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기체∙액체 또는 고체시료에 여기광(勵起光)을 조사하여 시료에서 방사되는 형광 또는 인광의 스펙트럼을 측정하여 정량 및 정성분석을 하는 장치.들뜸광파장 λ1을 선택하는 것으로서 물질 특유의 형광파장 λ2를 광전지 또는 광전관에 수광하여 고감도의 비색정량을 수행.

 

- 고감도 (S / N 4000:1 이상)

- 고속 측정

- 구성 요소 체제에 따른 맞춤형 장비 

- NIR ~ Far IR 영역의 형광 측정에 대응 가능 

- 여러가지 모듈을 부착가능하고 다양한 application에 대응 가능


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